晶体检测如何办理?晶体检测检测项目及标准有哪些?百检检测可为您提供材料等相关检测服务。

检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

晶体检测范围:

人工晶体，石英晶体，纳米晶体，粉煤灰晶体，高分子材料晶体，硅晶体等。

晶体检测项目:

结构检测，化学成分检测，机械性能检测，折射率检测，材料腐蚀试验，透射率检测，熔点检测，理化稳定性检测，耐压检测，特性曲线检测，伏安特性检测，阻抗检测，波形检测，应力检测，插入损耗检测，余辉检测，XRD检测，光学透过率检测，屈光度检测，结晶度检测，温度特性曲线检测等。

晶体检测标准:

GB/T1554-2009硅晶体完整性化学择优腐蚀检验

GB/T1557-2018硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量

GB/T3351-1982人造石英晶体的型号命名

GB/T3352-2012人造石英晶体规范与使用指南

GB/T4586-1994半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

GB/T6495.11-2016光伏器件第11部分：晶体硅太阳电池初始光致衰减测试

GB/T7895-2008人造光学石英晶体

GB/T7896-2008人造光学石英晶体试验

GB/T8756-1988锗晶体缺陷图谱

GB/T11297.12-2012光学晶体消光比的测量

GB/T11312-1989压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试

GB/T12633-1990压电晶体性能测试

GB/T12634-1990压电晶体电弹常数测试

GB/T14077-1993双折射晶体和偏振器件测试规范

GB/T14142-2017硅外延层晶体完整性检验

GB/T14144-2009硅晶体中间隙氧含量径向变化测量

GB/T16822-1997介电晶体介电性能的试验

GB/T16863-1997晶体折射率的试验

GB/T16864-1997低温下晶体透射率的试验

GB/T20724-2006薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定

GB/T31034-2014晶体硅太阳电池组件用绝缘背板

GB/T31958-2015薄膜晶体管液晶显示器用基板玻璃

GB/T36289.1-2018晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜第1部分：聚酯薄膜

GB/T36289.2-2018晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜第2部分：氟塑料薄膜

GB/T36655-2018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试

GB/T37051-2018太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定

GB/T37240-2018晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价

GB/T37398-2019氟化钡闪烁晶体

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；

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